您的位置: 百測(cè)網(wǎng)>送樣檢測(cè)>微觀形貌分析>掃描電子顯微鏡 >SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡測(cè)試(武漢)
掃描電鏡是一個(gè)可以提供微觀形貌,結(jié)構(gòu),成分分析的高分辨率電鏡。電子束和樣品相互作用,產(chǎn)生二次電子,背散射電子,能譜特征X射線,背散射衍射信號(hào),熒光信號(hào)等多種電子信號(hào),通過(guò)相應(yīng)檢測(cè)器,檢測(cè)到對(duì)應(yīng)信號(hào)我們便可以獲得樣品的形貌、結(jié)構(gòu),成分分析等相關(guān)信息
掃描電鏡的特點(diǎn):
1. 理論分辨率較高,實(shí)際拍攝結(jié)合到具體樣品,我們認(rèn)為10nm以下尺寸的結(jié)構(gòu),建議用透射電鏡來(lái)做。
2. 掃描-EDS的空間分辨率我們認(rèn)為實(shí)際應(yīng)用中,一般是1um以上,如果想要分析的顆粒尺寸低于這個(gè)尺寸,建議用透射-EDS。
3. 制樣簡(jiǎn)單,只要干燥即可,還要求導(dǎo)電性好,不過(guò)可以通過(guò)噴金進(jìn)行改善。
4. 測(cè)試效果最接近人眼直接觀看的效果,立體感較強(qiáng),只能看到表面信息,看不到樣品內(nèi)部信息。
4. 由于樣品經(jīng)過(guò)干燥,固定,噴金或者切割等步驟,以及實(shí)際拍攝時(shí)選擇的電壓,模式等參數(shù),在進(jìn)行尺寸測(cè)量以及圖片分析的時(shí)候,切記一定要謹(jǐn)慎分析,勿引入假象。