球差電鏡有兩種模式：TEM模式和STEM模式，一般在TEM模式下更多是觀察形貌，在STEM模式下，可以做EDS和EELS成分線掃和mapping。

　?。?）TEM模式：

　　低倍形貌像、高分辨像、衍射、會(huì)聚束衍射、納米束衍射，EFTEM（配GIF系統(tǒng)），高分辨圖像透射束和衍射束的相干像，襯度與焦聚有關(guān)，如果要解析原子結(jié)構(gòu)像，樣品要求比較薄，現(xiàn)在用戶使用不多。

　　但如果想做原位電子顯微學(xué)研究，一般都在此模式下進(jìn)行。收集圖像的設(shè)備是CCD。

　　（2）STEM模式

　　該模式下，可以使用各種明場(chǎng)和暗場(chǎng)探頭收集各種圖像。收集圖像種類有HADDF\LADDF\BF\ABF（JEOL），它有優(yōu)勢(shì)得到的是原子結(jié)構(gòu)像，像的襯度與原子序數(shù)有關(guān)，用戶處理數(shù)據(jù)簡(jiǎn)單。EDS和EELS線掃描和面掃描都需要在此模式下進(jìn)行。

　　（3）EDS: 能量分辨率130ev，B之后都可以測(cè)，一般Na之后會(huì)比較準(zhǔn)。

　?。?）EELS :EELS能夠測(cè)試的元素：能量分辨率0.7ev，理論上Li之后可以測(cè)。C、N、O、F、Mn、Fe、Ni、Cu等這些元素多些，但有些元素在高能區(qū)，不好測(cè)。

　　中科百測(cè)作為第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，擁有球差電鏡檢測(cè)儀器。如有測(cè)試需求，可以和中科百測(cè)聯(lián)系，我們會(huì)給與您準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和良好的服務(wù)體驗(yàn)，希望可以在大家的科研路上有所幫助。