X射線光電子能譜分析儀是采用X射線輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子受激發(fā)射出來，這是一種XPS表面分析的方法，這種光電子用來測量其能量和數(shù)量，以獲得待測物組成。

　　XPS測試主要應(yīng)用是測定電子的結(jié)合能來鑒定樣品表面的化學(xué)性質(zhì)及組成的分析，其特點(diǎn)在光電子來自表面10nm以內(nèi)，僅帶出表面的化學(xué)信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于金屬、無機(jī)材料、催化劑、聚合物、涂層材料礦石等各種材料的研究，以及腐蝕、摩擦、潤滑、粘接、催化、包覆、氧化等過程的研究。

　　使用X射線光電子能譜分析儀（XPS）的注意事項(xiàng)

　?。?）樣品規(guī)格盡量限制在11×1×0.5cm，如果樣品尺寸過大，則需要切割取樣。

　?。?）取樣時(shí)，一定要避免用手和工具接觸需要測試的位置，等待取下樣品后，要使用真空包裝或者其他能隔離的保證，這樣可以避免外來的污染影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。

　?。?）使用X射線光電子能譜分析儀進(jìn)行XPS測試時(shí)，其樣品可以噴不大于1nm的薄金，這里還需要注意的是，可以測試弱導(dǎo)電性的樣品，但不可以測試絕緣樣品。

　?。?）X射線光電子能譜分析儀進(jìn)行XPS元素分析，其范圍在Li-U，X射線光電子能譜分析儀只能測試無機(jī)物質(zhì)，檢出限0.1%。

　　以上就是中科百測對X射線光電子能譜分析（XPS）注意事項(xiàng)相關(guān)資料的整理，如有測試需求，可以和中科百測聯(lián)系，我們會(huì)給與您準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和良好的服務(wù)體驗(yàn)，希望可以在大家的科研路上有所幫助。