FEI Talos F200X透射電子顯微鏡是一個真正多功能、多用戶環(huán)境的200kV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和高分辨像，能進行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射，能進行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結合EDX點、線、面掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。該儀器還配備了相關的制樣設備，包括Gantan691離子減薄儀、磁力雙噴電解減薄器和凹坑儀等，可以進行金屬、生物以及高分子材料等樣品的透射電子顯微鏡的制樣工作。

　　利用它可以進行

　　形貌分析

　　通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關信息，同時還可通過明場像、暗場像對樣品的質厚襯度像、衍襯像進行進一步的表征。

　　結構分析

　　觀察研究材料結構并進行納米尺度的微分析，如：高分辨晶格條紋像，選區(qū)電子衍射，會聚束電子衍射等。

　　成分分析

　　可對小到幾納米的微區(qū)或晶粒的進行成分分析，可選擇性的對樣品進行能譜點測、能譜線掃、能譜面分布分析，獲得樣品中的元素在一個點、一條線、一個面上的分布情況。

　　該電鏡完全數(shù)字化，直接由一臺計算機控制。高分辨率分析系統(tǒng)完整，穩(wěn)定，靈活。多用戶界面、控制板面、各個功能模式能靈活切換。中科百測為該儀器配備了STEM, EDX, CCD, HAADF等多種附件，能采集TEM明場、暗場像和高分辨像，能進行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射，能進行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結合EDX點、線、面掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。中科百測的透射電子顯微鏡實驗室還配備了一整套相關的制樣設備，包括GATAN離子減薄儀、LEICA冰凍超薄切片機、磁力雙噴電解減薄器和凹坑儀等，可以進行生物、高分子材料以及金屬等樣品的透射電子顯微鏡制樣工作。

　　儀器使用范圍

　　廣泛應用于生物學、醫(yī)學、化學、物理學、地質學，金屬、半導體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料等領域。是研究各種材料的超顯微結構與性能關系所不可缺少的工具。