掃描電子顯微鏡(SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器，它是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。目前，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。

　　金屬材料檢測(cè)中SEM主要應(yīng)用?

　　金屬及其合金的性能是由微觀組織、化學(xué)成分和晶體結(jié)構(gòu)來決定的，連續(xù)可調(diào)的放大倍數(shù)等特點(diǎn)使得掃描電鏡在斷口形貌，微區(qū)形貌及定性定量分析，失效分析等方面有著重要作用。

　　1、微觀組織觀察

　　光學(xué)顯微鏡可以用來觀察常規(guī)組織，整體上看到兩種或幾種相的分配比例，但是由于其放大倍數(shù)有限（一般可放大倍數(shù)2000倍），很多組織中的片層結(jié)構(gòu)、針狀結(jié)構(gòu)、第二相、共晶體等很難清楚的觀測(cè)到。掃描電鏡利用其放大倍數(shù)大且連續(xù)可調(diào)的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了宏觀形貌與顯微組織同時(shí)觀測(cè)的目的。

　　2、斷口形貌觀察

　　景深大的特點(diǎn)使掃描電鏡在分析常規(guī)實(shí)驗(yàn)斷口、現(xiàn)場(chǎng)失效斷口等方面獲得了很好的應(yīng)用，斷口試樣無需破壞，無需制樣，放入樣品倉可直接觀察，這些都是光學(xué)顯微鏡、透射電鏡等檢測(cè)儀器所不能比擬的。首先，宏觀觀察失效斷口，判斷斷裂源區(qū)及裂紋擴(kuò)展方向；其次利用掃描電鏡微觀判定斷裂源區(qū)及擴(kuò)展區(qū)的斷裂類型，然后結(jié)合失效件的原始情況、生產(chǎn)工藝、用戶處理及使用情況、化學(xué)成分、金相檢測(cè)、力學(xué)性能檢測(cè)等得出結(jié)論。

　　掃描電鏡具有什么特點(diǎn)？

　　掃描電子顯微鏡具有景深大、分辨率高、成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外，掃描電鏡具有可測(cè)樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。

　　掃描電鏡可應(yīng)用在哪些地方？

　　1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析。

　　2、各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定量檢測(cè)。

　　3、粉末、微粒、納米樣品形態(tài)觀察和粒度測(cè)定。

　　4、機(jī)械零件與工業(yè)產(chǎn)品的失效分析。

　　5、鍍層厚度、成分與質(zhì)量評(píng)定。

　　6、刑偵案件物證分析與鑒定

　　7、新材料性質(zhì)的測(cè)定和評(píng)價(jià)。

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