X射線衍射儀是當(dāng)今世界上最先進(jìn)的X射線衍射儀系統(tǒng)，它設(shè)計精密，硬件軟件功能齊全，能靈活地適應(yīng)粉末，薄膜及完全晶體的各種微觀結(jié)構(gòu)測定，分析和研究任務(wù)。步進(jìn)馬達(dá)加光學(xué)編碼器確保測角儀快速而準(zhǔn)確定位，入射及衍射光路的各種附件均安裝在高精度導(dǎo)軌上。同時配置有高溫樣臺：試樣所處高真空石墨罩，真空度達(dá)到2*10-3Mpa，試樣最高可加熱溫度為1100℃。小角衍射最小角可以達(dá)到0.4度，主要測量介孔材料和其他高分子復(fù)合材料。廣角衍射：最低角度可以達(dá)到5度，可以精確接收到小于10度的衍射峰。

　　可以用XRD定量分析哪些內(nèi)容

　　A.樣品的平均晶粒尺寸，基本原理：當(dāng)X射線入射到小晶體時，其衍射線條將變得彌散而寬化，晶體的晶粒越小，x射線衍射譜帶的寬化程度就越大。因此晶粒尺寸與XRD譜圖半峰寬之間存在一定的關(guān)系,即謝樂公式（Scherrerequation），下期會詳細(xì)分析其原理與注意事項。

　　對于對于負(fù)載型催化劑表面的金屬顆粒，其顆粒大小d（單位nm）與其分散度D之間可以簡單地?fù)Q算：d≈ 0.9/D(注：0.9這個常數(shù)是經(jīng)驗值)。

　　B.樣品的相對結(jié)晶度：一般將最強衍射峰積分所得的面積（As）當(dāng)作計算結(jié)晶度的指標(biāo)，與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)積分所得面積(Ag)進(jìn)行比較，結(jié)晶度=As/Ag*100%。

　　C.物相含量的定量分析：主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全譜精修定量等。其中，RIR法的基本原理為1:1混合的某物質(zhì)與剛玉(Al2O3),其最強衍射峰的積分強度會有一個比值，該比值為RIR值。通過將該物質(zhì)的積分強度/RIR值總是可以換算成Al2O3的積分強度。對于一個混合物而言，物質(zhì)中所有組分都按這種方法進(jìn)行換算，最后可以通過歸一法得到某一特定組分的百分含量。

　　D.XRD還可以用于點陣常數(shù)的精密計算，殘余應(yīng)力計算等。