在做X射線光電子能譜XPS測試時(shí)，中科百測老師在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)僅僅是通過文獻(xiàn)或者師兄師姐的推薦對XPS測試有了解，但是對于其原理還屬于小白階段，針對此，中科百測整理了XPS測試常見問題，希望可以幫助到做科研的小伙伴們；

　　問題一：所測窄譜元素，含量比為啥跟預(yù)期不符？

　　1.樣品表面被污染

　　2.樣品分布不均勻

　　3.該元素不分布在樣品表面，即不在XPS所測微區(qū)范圍內(nèi)

　　4.XPS是半定量分析，和元素的實(shí)際含量會有出入

　　PS：XPS是一種典型的表面分析手段，用于定性及半定量分析，測試得到的僅是樣品表面幾百甚至幾 十um大小，幾個(gè)nm深度的樣品信息，不代表樣品整體性質(zhì)

　　問題二：樣品中，某元素窄譜曲線不光滑，峰刺較多，或沒有測出該元素？

　　1.元素含量比較低

　　2.樣品分布不均勻，所測試的光斑范圍內(nèi)，該元素含量較少

　　3.該元素不分布在樣品表面，即不在XPS所測微區(qū)范圍內(nèi)

　　問題三：分峰后，某元素結(jié)合能位置不對？

　　1.確認(rèn)下數(shù)據(jù)是否校正（我們給的數(shù)據(jù)，一般是沒有校正的數(shù)據(jù)）

　　2.分析下化學(xué)環(huán)境對該元素峰本身造成的影響，某些化學(xué)環(huán)境會導(dǎo)致峰有正常的偏移

　　3.確認(rèn)下分峰是否正確

　　問題四：元素的結(jié)合能測試范圍和之前的不同，無法對比？

　　如果該元素的峰是完整的，可以自行截取至相同結(jié)合能范圍進(jìn)行對比，如果不影響分析也可以不進(jìn)行截取