透射電鏡是使用比較廣泛的一類電鏡。TEM可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長(zhǎng)更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。

　　一、想了解TEM測(cè)試主要測(cè)什么？那我們先要了解一下TEM的工作原理。

　　工作原理：利用電子射線（或稱電子束也稱電子波）穿透樣品，而后經(jīng)多級(jí)電子放大后成像于熒光屏。

　　簡(jiǎn)單的說，拿SEM做對(duì)比：掃描電鏡觀察的是樣品表面的形態(tài)。

　　TEM：透射電鏡觀察的是樣品內(nèi)部精細(xì)結(jié)構(gòu)形態(tài)的。

　　主要優(yōu)點(diǎn)：分辨率高，可用來觀察組織和細(xì)胞內(nèi)部的超微結(jié)構(gòu)以及微生物和生物大分子的全貌。

　　根據(jù)加速電壓的大小分為以下3種：

　　1）一般TEM。最常用的是100KV電鏡。這種電鏡分辨率高（點(diǎn)0.3nm，晶格0.14nm），但穿透本領(lǐng)小，觀察樣品必須很薄，約為30～100nm，如細(xì)胞和組織的超薄切片、復(fù)型膜和負(fù)染樣品等。相當(dāng)普及。我校有這樣的設(shè)備。

　　2）高壓TEM。目前常用的是200KV電鏡。這種電鏡對(duì)樣品的穿透本領(lǐng)約為100KV電鏡的1.6倍，可以在觀察較厚樣品時(shí)獲得很好的分辨本領(lǐng)，從而可以對(duì)細(xì)胞結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維觀察。

　　3）超高壓TEM。目前已有500KV、1000KV和3000KV的超高壓TEM。這類電鏡具有穿透本領(lǐng)強(qiáng)、輻射損傷小、可以配備環(huán)境樣品室及進(jìn)行各種動(dòng)態(tài)觀察等優(yōu)點(diǎn)，分辨率也已達(dá)到或超過100KV電鏡的水平。在超高壓電鏡上附加充氣樣品室，使人們可以觀察活細(xì)胞內(nèi)的超微結(jié)構(gòu)動(dòng)態(tài)變化。

　　二、 TEM測(cè)試主要測(cè)什么？

　　中科百測(cè)檢測(cè)TEM可檢測(cè)的項(xiàng)目有：

　　可測(cè)試TEM、磁性TEM+HRTEM、SAED、EDS點(diǎn)掃/微區(qū)、EELS點(diǎn)或線或面掃、磁性STEM mapping、3D-TEM、STEM(HAADF)

　　中科百測(cè)是CMA資質(zhì)認(rèn)證的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，采用進(jìn)口檢測(cè)設(shè)備，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。另外，中科百測(cè)會(huì)出具中英文檢測(cè)報(bào)告，提供全面的一對(duì)一售后服務(wù)。