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BRUCKER D8 ADVANCE 德國布魯克公司(高溫原位:日本理學(xué)/帕納科銳影)
儀器安裝地址:北京檢測中心
檢測能力:XRD測試,掠射測試,高溫原位測試,電池原位測試
檢測周期:5 工作日
項目好評率:99.99%
完成周期:2 工作日
服務(wù)次數(shù):22983 次
技術(shù)參數(shù)
測量精度:角度重現(xiàn)性±0.0001°
測角儀半徑:≥200mm,測角圓直徑可連續(xù)變
靶源:配有銅靶和鈷靶
最小步長0.0001°
角度范圍(2θ):0.2°-140°
溫度范圍:室溫~1500℃
最大輸出功率:3KW
管電壓:20~60kV(1kV/1step)
管電流:10~60mA
應(yīng)用范圍
布魯克公司的D8 ADVANCE X射線衍射儀是當(dāng)今世界上最先進的X射線衍射儀系統(tǒng),它設(shè)計精密,硬件軟件功能齊全,能靈活地適應(yīng)粉末,薄膜及完全晶體的各種微觀結(jié)構(gòu)測定,分析和研究任務(wù)。步進馬達加光學(xué)編碼器確保測角儀快速而準(zhǔn)確定位,入射及衍射光路的各種附件均安裝在高精度導(dǎo)軌上。同時配置有高溫樣臺:試樣所處高真空石墨罩,真空度達到2*10-3Mpa,試樣最高可加熱溫度為1100℃。小角衍射最小角可以達到0.4度,主要測量介孔材料和其他高分子復(fù)合材料。廣角衍射:最低角度可以達到5度,可以精確接收到小于10度的衍射峰。
利用它可以進行
物相分析:可以對物質(zhì)的組成及物相進行表征分析。
定量分析:通過精修可對物質(zhì)的各組分進行精確的定量分析。
高溫原位分析:通過高溫原位實驗可以研究溫度對物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。
檢測案例
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(二)高溫原位分析案例
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