場發(fā)射掃描電子顯微鏡（熱場）

ApreoC   賽默飛（ThermoFisher）

技術(shù)參數(shù):

Technical Parameters

放大倍數(shù): 200 倍-15 萬倍

點(diǎn)分辨率: 1.0nm(WD)

樣品臺最大直徑: 50mm

X射線能譜儀元素分析范圍: B5 to 92

加速電壓: 1-30KeV

信號選擇:二次電子模式和背散射模

傾轉(zhuǎn)角: T:-15°     to +90°， R:360°

X射線能譜儀能量分辨率: 127 &

應(yīng)用范圍：

Applied Range

lhermo Scientific Apre C 高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載獨(dú)特的實(shí)時元素成像功能和先進(jìn)的自動光學(xué)系

統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析

ThemmQ Scientific Anreo C 具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，即使是磁性樣品或是傳統(tǒng)意義上成像非

常困難的樣品也可以實(shí)現(xiàn)極佳成像性能。全新 preg C 在原有性能基礎(chǔ)之上，進(jìn)一步優(yōu)化了超高分辨成像

能力，并且增設(shè)許多新功能提升其高級功能的易用性。ApreaC 在耐用的 SEM平臺上引入了 SmartAlig(智

能對中) 技術(shù)，不再需要用戶手動進(jìn)行調(diào)整操作，而且，F(xiàn)LASH (閃調(diào))自動執(zhí)行精細(xì)調(diào)節(jié)工作，只需移動

鼠標(biāo)幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦校正。此外，Aprea. C 是唯一在 10 m分析工作距

離下具有1m分辨率的SEM，長工作距離不再意味著低分辨成像，有了Apreo C，任何用戶都可以自信地

得到很好的成像效果。

利用它可以進(jìn)行

 形貌分析                

通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，同時還可通過專用的背散射探頭對金屬、陶瓷樣品的質(zhì)厚襯度像進(jìn)行進(jìn)一步的表征，可用于納米材料、金屬材料、薄膜材料、半導(dǎo)體材料、陶瓷材料、生物組織形貌像的觀 察，同時還可對材料斷口和失效模式進(jìn)行分析。                

               

 成分分析                

微區(qū)成分分析，通過對樣品微區(qū)、亞微區(qū)成分進(jìn)行分析定性、定量分析，可確定樣品的組成?？蛇x擇性的對樣品進(jìn)行能譜點(diǎn)測、能譜線掃、能譜面分布分析，獲得樣品中的元素在一個點(diǎn)、一條線、一個面上的分布情況。                

檢測案例

二次電子像

背散射電子像

能譜點(diǎn)測檢測案例

能譜線掃檢測案例

能譜面掃檢測案例

 粉末樣品：樣品量≥3mg(磁性樣品必須由承檢方制樣)。
       

 液體樣品：樣品量≥0.5ml。        

 塊體樣品：長*寬*高≤30mm*30mm*30mm。