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FIB樣品制備

FIB樣品制備

價(jià) 格:3700

儀器安裝地址:北京檢測中心

檢測能力:透射樣品制備、SEM刨面觀察、電路修補(bǔ)、3D重構(gòu)、3D原子探針、微納加工

檢測周期:7 工作日

項(xiàng)目好評率:100.00%

平均完成周期:4 工作日

服務(wù)次數(shù):1425 次


項(xiàng)目介紹

 

作為帶電粒子,離子和電子一樣在固體材料中會(huì)發(fā)生一系列散射,在散射過程中不斷失去所攜帶的能量最后停留在固體材料中。這其中分為彈性散射和非彈性散射,彈性散射不損失能量,但是改變離子在固體中的飛行方向。非彈性散射損失能量,因?yàn)殡x子與固體材料中原子的質(zhì)量是相當(dāng)?shù)?,離子與固體材料中的原子碰撞有能量損失。離子在材料中的損失主要有兩個(gè)原因,一是原子核損失,離子與固體材料中原子的原子核碰撞將部分能量傳遞給原子,使原子或移位或完全脫離固體材料表面,這一現(xiàn)象就是濺射,F(xiàn)IB加工中刻蝕功能就是依靠這一原理實(shí)現(xiàn)的。另一種損失是電子損失:將能量傳遞給原子核周圍的電子,使這些電子或被激發(fā)產(chǎn)生二次電子發(fā)射,或剝離固體原子核周圍的部分電子,使原子電離成離子,產(chǎn)生二次離子發(fā)射。



服務(wù)方信息

專屬客服

項(xiàng)目評價(jià)

檢測質(zhì)量:
5分
服務(wù)態(tài)度:
5分
檢測時(shí)效:
5分
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