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XPS數據分析(全國)

XPS數據分析(全國)

價 格:100

儀器安裝地址:全國

檢測能力:XPS價態(tài)分析

檢測周期:5 工作日

項目好評率:100.00%

平均完成周期:2 工作日

服務次數:1820 次

 

項目介紹

 X射線光電子能譜,簡稱XPS,是一種元素分析方法。所用激發(fā)源(探針)是單色X射線,探測從樣品表面出射的光電子的能量分布。由于電子能譜中包含著樣品有關表面電子結構的重要信息,用它可直接研究表面及體相的元素組成、電子組態(tài)和分子結構,以此來分析元素的價態(tài)以及樣品的分子結構信息(例如同分異構體以及半導體樣品的價帶頂位置)。對于深度方向非均相樣品中,可以進行元素組成的表面分布分析和深度剖析,或者一定程度上的微區(qū)定點分析。

 XPS數據解析是指通過對初始圖譜進行定標、分峰、擬合、比對、積分等一系列的操作而獲得待測樣品結構組成一種數據處理手段,常用的XPS數據解析軟件有xps peak fit、Origin、CasaXPS等。通過XPS數據分析我們可得到樣品表面的元素組成、含量、化學價態(tài)、官能團種類、化學鍵合方式等信息,可分為定性分析和定量分析兩種。

 

測試特點:

1、XPS定量分析,屬于是半定量分析,誤差較大。特別是對于C元素定量以及多孔材料的元素定量。

2、XPS測試是微區(qū)測試(常規(guī)光斑500 μm),檢測深度不超過10 nm。薄膜、塊體等樣品,若樣品表面組分不均勻,會造成測試結果的差異;如果材料特殊,或者需要深度分析,需要刻蝕處理。

3、XPS測試有一定的檢測限,原子百分含量小于5%的元素可能測不出明顯信號。


實驗設計:

1、首先確定樣品分析目的,比如價態(tài)分析,官能團分析,價帶頂分析,表面分析等;

2、該測試方法的優(yōu)劣勢(碳污染,微區(qū),半定量帶來的數據誤差);

3、結合樣品實際情況進行設計方案,包括樣品種類,如何準備合適樣品,如何選擇合適參數以期一次性達成測試目標;

4、這個過程中遇到任何問題,聯系我們,我們將對實驗設計和參數確定,樣品制備等問題進行答疑。



服務方信息

專屬客服

項目評價

檢測質量:
5分
服務態(tài)度:
5分
檢測時效:
5分
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