X射線粉末衍射儀
BRUCKER D8 ADVANCE 德國布魯克公司(高溫原位：布魯克/帕納科銳影) 

技術(shù)參數(shù)

測量精度：角度重現(xiàn)性±0.0001°;              測角儀半徑：≥200mm，測角圓直徑可連續(xù)變                   靶源：配有銅靶和鈷靶
最小步長0.0001°;                                     角度范圍（2θ）：0.2°-140°;                                             溫度范圍：室溫～1500℃
最大輸出功率：3KW                                管電壓：20～60kV(1kV/1step)                                        管電流：10～60mA

應(yīng)用范圍

布魯克公司的D8 ADVANCE X射線衍射儀是當(dāng)今世界上最先進(jìn)的X射線衍射儀系統(tǒng)，它設(shè)計(jì)精密，硬件軟件功能齊全，能靈活地適應(yīng)粉末，薄膜及完全晶體的各種微觀結(jié)構(gòu)測定，分析和研究任務(wù)。步進(jìn)馬達(dá)加光學(xué)編碼器確保測角儀快速而準(zhǔn)確定位，入射及衍射光路的各種附件均安裝在高精度導(dǎo)軌上。同時(shí)配置有高溫樣臺：試樣所處高真空石墨罩，真空度達(dá)到2*10-3Mpa，試樣最高可加熱溫度為1100℃。小角衍射最小角可以達(dá)到0.4度，主要測量介孔材料和其他高分子復(fù)合材料。廣角衍射：最低角度可以達(dá)到5度，可以精確接收到小于10度的衍射峰。     

物相分析                                  
可以對物質(zhì)的組成及物相進(jìn)行表征分析。                                  
定量分析                                  
通過精修可對物質(zhì)的各組分進(jìn)行精確的定量分析。                                  
高溫原位分析                                  
通過高溫原位實(shí)驗(yàn)可以研究溫度對物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。